Oikeilla jäljillä... / Tracking Traces...

Oikeilla jäljillä -kokoelmanäyttelyn teemana olivat kulttuuriset jäljet. Näitä jälkiä löytyy läheltä ja kaukaa: ihmisruumiista mainoskuvastoon ja kaupunkitilaan.

Oikeilla jäljillä... kokoelmanäyttely, Kiasma 27.3. 2009–14.2. 2010.

Kieli suomi ja englanti.

Näyttelyn teemana oli kulttuuriset jäljet. Jäljet kertovat elämästä ja kommunikoinnin tarpeesta. Näitä jälkiä löytyy läheltä ja kaukaa. Jäljet voivat olla tietoisesti tai vahingossa syntyneitä merkkejä ja painaumia, joita jätämme, tunnemme ja tuotamme päivittäin. Näyttelyn teoksissa jäljet muokkaavat ja rakentavat kuvaa meistä ja maailmasta jossa elämme. Näyttelyssä oli alateemoina töhry, viivakoodi ja painauma.

Kustantaja: Nykytaiteen museon julkaisuja 119/2009.

Toimittajat: Pirkko Siitari, Leevi Haapala.

Kirjoittajat: Bernt Arell, Eija Aarnio, Leevi Haapala, Pirkko Siitari, Max Ryynänen.

ISBN 978-951-53-3163-2

Koko 21,5 x 21,5 cm, 131 sivua.

Kovakantinen.